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                                                    雙85測試的目的
由于PCB基材的絕緣層是由樹脂與玻璃布所構(gòu)成，當在高電壓狀態(tài)下，通孔與通孔、線路與線路、線路與通孔間形成一個電場，而PCB濕制程很多，水分中或板面清潔不良殘留的電解質(zhì)可能經(jīng)由鉆孔產(chǎn)生的微裂縫順著玻璃纖的方向遷移產(chǎn)生短路，造成絕緣失效，這種現(xiàn)象稱為CAF陽極性玻纖絲的漏電現(xiàn)象。CAF測試通過監(jiān)控測試單元的電阻，當CAF發(fā)生時，絕緣層的絕緣性能下降，電阻也隨之下降，由此可判斷CAF的失效，顧可通過寧波奉化精控環(huán)境試驗設備有限公司的雙85試驗箱測得。電解離子的遷移是需要條件的。高溫高濕加偏壓剛好提供了離子加速遷移的條件 。